SweepScopeSemiconductor device electrical characterization and analysis platform
사용법

① 파일을 업로드 → ② 곡선과 성능 확인 → ③ 필요한 결과 저장

★ 즐겨찾기는 공정조건 없이 다시 열어볼 분석을 보관합니다.

공정조건 입력 · Database에 저장은 제작 조건과 성능을 함께 누적합니다.

둘 다 본인 계정 전용이며 다른 이용자에게 공개되지 않습니다.

여러 파일을 선택하면 곡선을 겹쳐 비교할 수 있습니다. 복사 버튼으로 그래프·표를 보고자료에 붙여넣으세요.

측정 데이터 분석

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분석 조건

분석에 적용: Cᵢ = 1.38 × 10-7 F/cm²

적용 유전율 εᵣ ≈ 7.793
계산식 Cᵢ = ε₀εᵣ / tGI

세부 분석 설정

Fitting 구간 선택 기준 · 구간 경계를 조금 변경했을 때 허용할 기울기 변화율을 Δ slope로 설정합니다.

Advanced quality thresholds

최대 |Ig| 초과 경고용이며 Ioff 계산에는 영향을 주지 않습니다. Ioff = 전체 sweep의 min |Id|.

R² · voltage span · monotonicity · neighboring slope change ≤5% · sufficient current response · |Iɢ|/|Iᴅ| ≤0.5

계산식μlin = |a| / (Cᵢ·W/L·|Vᴅ|)μsat = a² / (0.5·Cᵢ·W/L)Vth = −b/a
Pass / Review는 무엇인가요?

계산된 성능값과 별도로, 자동 분석 결과의 추가 검토 필요 여부를 표시합니다.

Pass설정한 검사 조건 충족

Review추가 확인 필요

  • Fitting 구간 — R²·기울기 안정성 등 구간 선택 조건을 확인합니다.
  • 전체 곡선 — 첫 sweep에서 전류가 예상 방향과 반대로 반복해서 변하는지 확인합니다.
  • Off 영역 전류 — Gate leakage 영향과 Ioff = 0 여부를 확인합니다.

Review는 불량 확정이 아닙니다.

검토 사유는 결과 아래의
분석 상세에서 확인하세요.

분석 검토를 위한 표시입니다.
성능 등급이나 수율을 의미하지 않습니다.

TRANSFER CURVE

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